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熒光光譜儀的優(yōu)缺點(diǎn)
日期：2025-06-07 17:15
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摘要：
X熒光光譜儀 的優(yōu)缺點(diǎn)：
1、優(yōu)點(diǎn)
a)
分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b)
X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關(guān)系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定
。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d)...
X熒光光譜儀 的優(yōu)缺點(diǎn)：
1、優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關(guān)系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體等都可以進(jìn)行分析。
2、缺點(diǎn)
a）難于作**分析，所以定量分析需要標(biāo)樣。
b）對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
1、優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒關(guān)系（氣體密封在容器內(nèi)也可分析）但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體等都可以進(jìn)行分析。
2、缺點(diǎn)
a）難于作**分析，所以定量分析需要標(biāo)樣。
b）對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
c）容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
